Misfit dislocations between boron-doped homoepitaxial films and diamond substrates studied by X-ray diffraction topography
ISSN: 1600-5767, 0021-8898
Any de publicació: 2018
Volum: 51
Número: 6
Pàgines: 1684-1690
Tipus: Article
ISSN: 1600-5767, 0021-8898
Any de publicació: 2018
Volum: 51
Número: 6
Pàgines: 1684-1690
Tipus: Article