3D characterization and metrology of nanostructures by electron tomography
- Hernandez, J.C.
- Hungria, A.B.
- Perez-Omil, J.A.
- Moreno, M.S.
- Coronado, E.A.
- Cempura, G.
- Kruk, A.
- Midgley, P.A.
ISSN: 1431-9276, 1435-8115
Ano de publicación: 2008
Volume: 14
Número: SUPPL. 2
Páxinas: 284-285
Tipo: Achega congreso