Dual-axis STEM tomography of Dy-doped YBa2Cu3O7-x coated superconductors

  1. Ortalan, V.
  2. Herrera, M.
  3. Morgan, D.G.
  4. Rupich, M.W.
  5. Browning, N.D.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Año de publicación: 2008

Volumen: 14

Número: SUPPL. 2

Páginas: 340-341

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1017/S1431927608085930 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus