Comparison of the thickness determined by Fresnel contrast and Rutherford backscattering spectrometry in ultra-thin layers
- Ponce, A.
- Molina, S.I.
- García-López, J.
- Battistig, G.
Colección de libros:
Design and Nature
ISSN: 1478-0585
Ano de publicación: 2004
Volume: 6
Páxinas: 305-308
Tipo: Achega congreso