Critical thickness of high-temperature AIN interlayers in GaN on sapphire (0001)
- Sanchez, A.M.
- Pacheco, F.J.
- Molina, S.I.
- Stemmer, J.
- Aderhold, J.
- Graul, J.
ISSN: 0361-5235
Ano de publicación: 2001
Volume: 30
Número: 5
Páxinas: L17-L20
Tipo: Carta