The benefit of thresholding carbon layers in electron tomographic tilt series by intensity downshifting

  1. Gontard, L.C.
  2. Cintas, J.
  3. Borkowski, R.E.D.
Zeitschrift:
Journal of Microscopy

ISSN: 1365-2818,  0022-2720

Datum der Publikation: 2017

Ausgabe: 265

Nummer: 3

Seiten: 298-306

Art: Artikel

DOI: 10.1111/JMI.12498 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus