STEM-EELS analysis reveals stable high-density He in nanopores of amorphous silicon coatings deposited by magnetron sputtering

  1. Schierholz, R.
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Revista:
Nanotechnology

ISSN: 1361-6528 0957-4484

Año de publicación: 2015

Volumen: 26

Número: 7

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0957-4484/26/7/075703 GOOGLE SCHOLAR