Synthesis, structuring and characterization of rare earth oxide thin films: Modeling of the effects of stress and defects on the phase stability

  1. Gaboriaud, R.J.
  2. Paumier, F.
  3. Lacroix, B.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Any de publicació: 2014

Volum: 553

Pàgines: 43-46

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1016/J.TSF.2013.12.035 GOOGLE SCHOLAR