Polarity determination of polar and semipolar (112̄2) InN and GaN layers by valence band photoemission spectroscopy
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- Dinh, D.V.
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- Ruterana, P.
- Hoffmann, M.
- Sitar, Z.
- Pristovsek, M.
- Kneissl, M.
- Vogt, P.
Zeitschrift:
Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
Datum der Publikation: 2013
Ausgabe: 114
Nummer: 17
Art: Artikel