Mechanisms of damage formation in Eu-implanted GaN probed by X-ray diffraction

  1. Lacroix, B.
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Revista:
EPL

ISSN: 0295-5075,  1286-4854

Año de publicación: 2011

Volumen: 96

Número: 4

Tipo: Artículo

DOI: 10.1209/0295-5075/96/46002 GOOGLE SCHOLAR
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