The high sensitivity of InN under rare earth ion implantation at medium range energy
- Lacroix, B.
- Chauvat, M.P.
- Ruterana, P.
- Lorenz, K.
- Alves, E.
- Syrkin, A.
ISSN: 0022-3727, 1361-6463
Datum der Publikation: 2011
Ausgabe: 44
Nummer: 29
Art: Artikel
Zeitschrift:
Journal of Physics D: Applied Physics