Crystal defects and related stress in Y2O3 thin films: Origin, modeling, and consequence on the stability of the C-type structure

  1. Lacroix, B.
  2. Paumier, F.
  3. Gaboriaud, R.J.
Revista:
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

ISSN: 1098-0121,  1550-235X

Año de publicación: 2011

Volumen: 84

Número: 1

Tipo: Artículo

DOI: 10.1103/PHYSREVB.84.014104 GOOGLE SCHOLAR
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