Study of defects and structural transformations induced by ion irradiation of Y2O3 thin films deposited by Ion Beam Sputtering

  1. Lacroix, B.
  2. Paumier, F.
  3. Jublot, M.
  4. Pacaud, J.
  5. Gaboriaud, R.J.
Actes:
Materials Research Society Symposium Proceedings

ISSN: 0272-9172

ISBN: 9781615677627

Any de publicació: 2008

Volum: 1122

Pàgines: 60-65

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1557/PROC-1122-O09-04 GOOGLE SCHOLAR