Detecting single-electron events in TEM using low-cost electronics and a silicon strip sensor

  1. Gontard, L.C.
  2. Moldovan, G.
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  5. Kirkland, A.I.
Revista:
Microscopy

ISSN: 2050-5701,  2050-5698

Año de publicación: 2014

Volumen: 63

Número: 2

Páginas: 119-130

Tipo: Artículo

DOI: 10.1093/JMICRO/DFT051 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus