IoT-TEG 4.0: A New Approach 4.0 for Test Event Generation

  1. Velez-Estevez, A.
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Revista:
IEEE Transactions on Reliability

ISSN: 1558-1721,  0018-9529

Año de publicación: 2022

Volumen: 71

Número: 3

Páginas: 1368-1380

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TR.2021.3087781 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

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