Developing and Evaluating Deep Neural Network-Based Denoising for Nanoparticle TEM Images with Ultra-Low Signal-to-Noise

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Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Año de publicación: 2021

Volumen: 27

Número: 6

Páginas: 1431-1447

Tipo: Artículo

DOI: 10.1017/S1431927621012678 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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