Positron beam analysis of structurally ordered porosity in mesoporous silica thin films
- Van Veen, A.
- Galindo, R.E.
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- Falub, C.V.
- Balkenende, A.R.
- De Theije, F.K.
ISSN: 0921-5107
Año de publicación: 2003
Volumen: 102
Número: 1-3
Páginas: 2-7
Tipo: Aportación congreso