Determination of the Strain Field in Nano-Objects from Aberration-Corrected Z-contrast Images
- SI Molina 1
- M Varela 2
- DL Sales 1
- T Ben 1
- J Pizarro 1
- PL Galindo 1
- D Fuster 3
- Y Gonzalez 3
- L Gonzalez 3
- S Pennycook 2
- 1 University of Cadiz, Spain
-
2
Oak Ridge National Laboratory
info
-
3
Instituto de Microelectrónica de Madrid
info
Verlag: Cambridge University Press
ISSN: 1435-8115, 1431-9276
Datum der Publikation: 2007
Ausgabe: 13
Nummer: S02
Seiten: 746-747
Art: Konferenz-Beitrag