High quality SiO2/diamond interface in O-terminated p-type diamond MOS capacitors
- Cañas, J.
- Dussarrat, C.
- Teramoto, T.
- Masante, C.
- Gutierrez, M.
- Gheeraert, E.
Zeitschrift:
Applied Physics Letters
ISSN: 0003-6951
Datum der Publikation: 2022
Ausgabe: 121
Nummer: 7
Art: Artikel
