Structural models for semiconductor As0.20Se0.50Te0.30 glass alloy by X-ray diffraction
- Vázquez, J.
- Villares, P.
- Jiménez-Garay, R.
ISSN: 0022-3093
Any de publicació: 1986
Volum: 86
Número: 1-2
Pàgines: 251-260
Tipus: Article
ISSN: 0022-3093
Any de publicació: 1986
Volum: 86
Número: 1-2
Pàgines: 251-260
Tipus: Article