Structural models for semiconductor As0.20Se0.50Te0.30 glass alloy by X-ray diffraction
- Vázquez, J.
- Villares, P.
- Jiménez-Garay, R.
ISSN: 0022-3093
Ano de publicación: 1986
Volume: 86
Número: 1-2
Páxinas: 251-260
Tipo: Artigo
ISSN: 0022-3093
Ano de publicación: 1986
Volume: 86
Número: 1-2
Páxinas: 251-260
Tipo: Artigo