Structural models for semiconductor As0.20Se0.50Te0.30 glass alloy by X-ray diffraction
- Vázquez, J.
- Villares, P.
- Jiménez-Garay, R.
ISSN: 0022-3093
Argitalpen urtea: 1986
Alea: 86
Zenbakia: 1-2
Orrialdeak: 251-260
Mota: Artikulua
ISSN: 0022-3093
Argitalpen urtea: 1986
Alea: 86
Zenbakia: 1-2
Orrialdeak: 251-260
Mota: Artikulua