Structural characterization of GaN/AlN/Si (111)

  1. Molina, SI
  2. Sanchez, AM
  3. Sanchez-Garcia, MA
  4. Calleja, E
  5. Calle, F
  6. Garcia, R
Libro:
ELECTRON MICROSCOPY 1998, VOL 3
  1. Benavides, HAC (coord.)
  2. Yacaman, MJ (coord.)

ISBN: 0-7503-0566-5

Año de publicación: 1998

Páginas: 389-390

Congreso: 14th International Congress on Electron Microscopy

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS