Beta to alpha transition and defects on SiC on Si grown by CVD

  1. Morales, F. M.
  2. Foerster, Ch
  3. Ambacher, O.
  4. Pezoldt, J.
Col·lecció de llibres:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Hutchison, JL (coord.)

ISSN: 0930-8989,  1867-4941

ISBN: 3-540-31914-X

Any de publicació: 2005

Volum: 107

Pàgines: 131-134

Congrés: 14th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS