Beta to alpha transition and defects on SiC on Si grown by CVD

  1. Morales, F. M.
  2. Foerster, Ch
  3. Ambacher, O.
  4. Pezoldt, J.
Büchersammlung:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Hutchison, JL (coord.)

ISSN: 0930-8989,  1867-4941

ISBN: 3-540-31914-X

Datum der Publikation: 2005

Ausgabe: 107

Seiten: 131-134

Kongress: 14th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Art: Konferenz-Beitrag

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Fuente de los datos: WoS