Characterization of InGaAs (N)/GaAsN multi-quantum wells using transmission electron microscopy

  1. Gutierrez, M
  2. Herrera, M
  3. Ross, I
  4. Gonzalez, D
  5. Hopkinson, M
  6. Garcia, R
Colección de libros:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 2003
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Midgley, PA (coord.)

ISSN: 0951-3248

ISBN: 0-7503-0979-2

Año de publicación: 2003

Páginas: 143-146

Congreso: Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS