A method for thin foil thickness determination by transmission electron microscopy

  1. Castro Riglos, M.V.
  2. Tolley, A.
Aldizkaria:
Applied Surface Science

ISSN: 0169-4332

Argitalpen urtea: 2007

Alea: 254

Zenbakia: 1 SPEC. ISS.

Orrialdeak: 420-424

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/J.APSUSC.2007.07.057 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus