A method for thin foil thickness determination by transmission electron microscopy

  1. Castro Riglos, M.V.
  2. Tolley, A.
Revista:
Applied Surface Science

ISSN: 0169-4332

Ano de publicación: 2007

Volume: 254

Número: 1 SPEC. ISS.

Páxinas: 420-424

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.APSUSC.2007.07.057 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus