Automática, Procesamiento de Señales e Ingenieria de Sistemas
TIC196
University of Johannesburg
Johannesburgo, SudáfricaPublicacions en col·laboració amb investigadors/es de University of Johannesburg (1)
1995
-
Determining the refractive index and average thickness of AsSe semiconducting glass films from wavelength measurements only
Applied Optics, Vol. 34, Núm. 34, pp. 7907-7913