Determining the refractive index and average thickness of AsSe semiconducting glass films from wavelength measurements only

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Revista:
Applied Optics

ISSN: 2155-3165,  1559-128X

Año de publicación: 1995

Volumen: 34

Número: 34

Páginas: 7907-7913

Tipo: Artículo

DOI: 10.1364/AO.34.007907 GOOGLE SCHOLAR
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