Proyecto de investigación
DPI2003-04345
Texturado de obleas de silicio y caracterización de la capa antirreflectante obtenida por serigrafía en células fotovoltaicas.
date_range
Duración del 01 de diciembre de 2003 al 30 de noviembre de 2006
(36 meses)
Finalizó
Convocatoria:
Programa General. Plan Nacional I+D+i