Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Institut d'investigació
University System of Ohio
Columbus, Estados UnidosPublicacions en col·laboració amb investigadors/es de University System of Ohio (1)
1999
-
Effect of the temperature ramp rate during carbonization of Si (111) on the crystalline quality of SiC produced
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 1999, PROCEEDINGS