Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Institut d'investigació
Universidad Alfonso X el Sabio
Villanueva de la Cañada, EspañaPublicacions en col·laboració amb investigadors/es de Universidad Alfonso X el Sabio (1)
1998
-
Influence of interface dislocations on surface kinetics during epitaxial growth of InGaAs
Applied Surface Science, Vol. 123-124, pp. 303-307