Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Forschungsinstitut
Universidad Alfonso X el Sabio
Villanueva de la Cañada, EspañaPublikationen in Zusammenarbeit mit Forschern von Universidad Alfonso X el Sabio (1)
1998
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Influence of interface dislocations on surface kinetics during epitaxial growth of InGaAs
Applied Surface Science, Vol. 123-124, pp. 303-307