Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Instituto de investigación
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Cornell University
Ithaca, Estados UnidosPublicaciones en colaboración con investigadores/as de Cornell University (3)
2016
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Orientationally Ordered Silicon Nanocrystal Cuboctahedra in Superlattices
Nano Letters, Vol. 16, Núm. 12, pp. 7814-7821
2012
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Defect evolution and interplay in n-type InN
Applied Physics Letters, Vol. 100, Núm. 9
2006
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Scanning transmission electron tomography
Microscopy and Microanalysis