Determining the refractive index and average thickness of AsSe semiconducting glass films from wavelength measurements only

  1. Corrales, C.
  2. Ramírez-Malo, J.B.
  3. Fernández-Peña, J.
  4. Villares, P.
  5. Swanepoel, R.
  6. Márquez, E.
Revista:
Applied Optics

ISSN: 2155-3165,  1559-128X

Any de publicació: 1995

Volum: 34

Número: 34

Pàgines: 7907-7913

Tipus: Article

DOI: 10.1364/AO.34.007907 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus