Determining the refractive index and average thickness of AsSe semiconducting glass films from wavelength measurements only

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Zeitschrift:
Applied Optics

ISSN: 2155-3165,  1559-128X

Datum der Publikation: 1995

Ausgabe: 34

Nummer: 34

Seiten: 7907-7913

Art: Artikel

DOI: 10.1364/AO.34.007907 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus