Determining the refractive index and average thickness of AsSe semiconducting glass films from wavelength measurements only
- Corrales, C.
- Ramírez-Malo, J.B.
- Fernández-Peña, J.
- Villares, P.
- Swanepoel, R.
- Márquez, E.
ISSN: 2155-3165, 1559-128X
Ano de publicación: 1995
Volume: 34
Número: 34
Páxinas: 7907-7913
Tipo: Artigo