High resolution HAADF-STEM imaging analysis of N related defects in GaNAs quantum wells

  1. Herrera, M.
  2. Ramasse, Q.
  3. Browning, N.D.
  4. Pizarro, J.
  5. Galindo, P.L.
  6. Gonzalez, D.
  7. Garcia, R.
  8. Du, M.W.
  9. Zhang, S.B.
  10. Hopkinson, M.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Any de publicació: 2008

Volum: 14

Número: SUPPL. 2

Pàgines: 318-319

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1017/S1431927608082329 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus