High resolution HAADF-STEM imaging analysis of N related defects in GaNAs quantum wells

  1. Herrera, M.
  2. Ramasse, Q.
  3. Browning, N.D.
  4. Pizarro, J.
  5. Galindo, P.L.
  6. Gonzalez, D.
  7. Garcia, R.
  8. Du, M.W.
  9. Zhang, S.B.
  10. Hopkinson, M.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Ano de publicación: 2008

Volume: 14

Número: SUPPL. 2

Páxinas: 318-319

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1017/S1431927608082329 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus