Quantitative strain mapping applied to aberration-corrected HAADF images
- Sanchez, A.M.
- Galindo, P.L.
- Kret, S.
- Falke, M.
- Beanland, R.
- Goodhew, P.J.
ISSN: 1431-9276, 1435-8115
Any de publicació: 2006
Volum: 12
Número: 4
Pàgines: 285-294
Tipus: Article
Revista:
Microscopy and Microanalysis