Quantitative strain mapping applied to aberration-corrected HAADF images

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Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 12

Nummer: 4

Seiten: 285-294

Art: Artikel

DOI: 10.1017/S1431927606060363 GOOGLE SCHOLAR
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