Quantitative strain mapping applied to aberration-corrected HAADF images

  1. Sanchez, A.M.
  2. Galindo, P.L.
  3. Kret, S.
  4. Falke, M.
  5. Beanland, R.
  6. Goodhew, P.J.
Aldizkaria:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Argitalpen urtea: 2006

Alea: 12

Zenbakia: 4

Orrialdeak: 285-294

Mota: Artikulua

DOI: 10.1017/S1431927606060363 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus