Electron microscopy study of SiC obtained by the carbonization of Si(111)

  1. Pacheco, F.J.
  2. Sánchez, A.M.
  3. Molina, S.I.
  4. Araújo, D.
  5. Devrajan, J.
  6. Steckl, A.J.
  7. García, R.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Any de publicació: 1999

Volum: 343-344

Número: 1-2

Pàgines: 305-308

Tipus: Article

DOI: 10.1016/S0040-6090(98)01589-2 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus