Electron microscopy study of SiC obtained by the carbonization of Si(111)

  1. Pacheco, F.J.
  2. Sánchez, A.M.
  3. Molina, S.I.
  4. Araújo, D.
  5. Devrajan, J.
  6. Steckl, A.J.
  7. García, R.
Zeitschrift:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Datum der Publikation: 1999

Ausgabe: 343-344

Nummer: 1-2

Seiten: 305-308

Art: Artikel

DOI: 10.1016/S0040-6090(98)01589-2 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus