Electron microscopy study of SiC obtained by the carbonization of Si(111)

  1. Pacheco, F.J.
  2. Sánchez, A.M.
  3. Molina, S.I.
  4. Araújo, D.
  5. Devrajan, J.
  6. Steckl, A.J.
  7. García, R.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Ano de publicación: 1999

Volume: 343-344

Número: 1-2

Páxinas: 305-308

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/S0040-6090(98)01589-2 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus