Analysis by HR-STEM of the Strain Generation in InP after SiN x Deposition and ICP Etching
- Gutiérrez, M.
- Reyes, D.F.
- Araujo, D.
- Landesman, J.P.
- Pargon, E.
ISSN: 1543-186X, 0361-5235
Datum der Publikation: 2020
Ausgabe: 49
Nummer: 9
Seiten: 5226-5231
Art: Artikel