A single slice approach for simulating two-beam electron diffraction of nanocrystals

  1. Gontard, L.C.
  2. Barroso-Bogeat, A.
  3. Dunin-Borkowski, R.E.
  4. Calvino, J.J.
Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 1879-2723,  0304-3991

Año de publicación: 2018

Volumen: 195

Páginas: 171-188

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2018.09.004 GOOGLE SCHOLAR
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