Misfit dislocations between boron-doped homoepitaxial films and diamond substrates studied by X-ray diffraction topography

  1. González-Mañas, M.
  2. Vallejo, B.
Revista:
Journal of Applied Crystallography

ISSN: 1600-5767,  0021-8898

Año de publicación: 2018

Volumen: 51

Número: 6

Páginas: 1684-1690

Tipo: Artículo

DOI: 10.1107/S1600576718015388 GOOGLE SCHOLAR
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