Electron tomography using compositional-sensitive diffraction contrast for 3D characterization of self-assembled semiconductor quantum dots

  1. Beanland, R.
  2. Hernandez, J.C.
  3. Sanchez, A.M.
  4. Midgley, P.A.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Any de publicació: 2008

Volum: 14

Número: SUPPL. 2

Pàgines: 1052-1053

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1017/S1431927608088107 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus